大赛登录

大赛注册

当前位置：首页大赛首页睿焊智控---AOI+TOF复合式PCB缺陷扫描仪

大赛简介

大赛作品

大赛动态

联系我们

联系人：王秀秀

电话：010 -66083178

网址：www.qxwq.org.cn　

地址：北京市西城区广安门

内广义街5号广益大厦

大赛作品详情

作品名称：睿焊智控---AOI+TOF复合式PCB缺陷扫描仪
学校名称：江西现代职业技术学院
参赛队伍：睿焊智控---AOI+TOF复合式pcb缺陷扫描仪
队伍编号：213664
参赛学生：祝珍莲毛妍颖汪永孙明皓
指导老师：张三英罗锋华
投票日期：2025年10月10日 00:00->2025年12月15日 00:00
请在微信端进行投票。点此扫描二维码。

详细说明

一、项目背景

当前 PCB（印制电路板）作为电子信息产业的核心基础部件，2025 年市场规模预计达 6408 亿元，中国大陆产值占比超 50%，主导地位凸显。但行业面临四大核心痛点：一是检测误报率高（10%-20%），设备受环境干扰与算法僵化影响大；二是缺陷追溯难，定位覆盖率不足 10%；三是精检受限，传统自动化设备精度仅 0.5mm，无法适配新型封装与小零件检测；四是智能化适配差，70% 企业反馈传统编程难以快速响应元器件变化。
同时，国家政策明确推动制造业数字化转型、构筑人工智能先发优势，习总书记强调 “以科技创新引领产业创新，培育先进制造、电子信息等战略性新兴产业”，为 PCB 检测技术升级提供方向。在此背景下，团队历经两年研发，推出 Rh-aoitof-3500复合式 PCB 缺陷扫描仪，解决行业检测痛点。

二、核心技术设计原理

1.AOI+TOF智能融合原理：采用国内首创的 AOI+TOF 智能融合技术，突破传统单一检测技术局限，AOI 模组通过 2D 光学成像识别平面缺陷（如短路、缺件），TOF 模组利用飞行时间法测量 3D 空间信息（如元件高度、PCB 弯曲度），二者通过 AI 动态配权算法协同，实现 “平面 + 立体” 全维度缺陷覆盖，检测精度从传统 < 10μm 提升至 < 0.3μm

2. 高频穿透复合检测原理：基于毫米波雷达技术，通过多组定向收发单元发射高频信号，穿透 PCB 表层后采集反射信号，结合 FMCW 算法进行时频域解算，构建空间立体检测网，精准定位内部隐性缺陷（如内层开路），解决传统设备 “表面检测局限” 问题。

3.AI 多传感器融合原理：以深度学习模型为核心，整合 AOI、TOF、毫米波雷达多源数据，通过时间校准与预处理同步，建立 120 万 + 缺陷细分场景数据库，动态优化识别模型，将传统 AOI 70%-80% 的漏判率降至 0.05%，误判率从 8% 降至 < 0.1%，解决传统检测数据库难以更新迭代、漏判率高的问题。